特点:基板质量高，适用于 TLP/VF-TLP系统晶圆级校准探针间距范围：40 µm (或200 µm) 至 3 mm12种高精度电阻，阻值分别为： 0.1, 0.2, 0.51, 1, 2, 4.99, 10, 20, 49.9, 100, 200 和499 Ω，适用于TLP电流测量通道校准6种参考齐纳二极管，击穿电压分别为：2.4, 5.1, 10, 20, 33, 和110 V，适用于电压测量通道校准2种瞬态电压抑制器 (TVS)，作为 TLP/VF-TLP 系统校准后的测量参考84个开路，84个短路测试结构选项：测试探针间距：30μm / 150μmSKU：CN-ES62X-CKW分类：探针台测试方案,脉冲IV曲线测试方案标签：DC测量,TLP测试,探针台,静电放电

ES62X-CMPS便携式手动探针台可用于晶圆探针测量。该产品可靠性高，设计紧凑，价格实惠。测量的晶圆尺寸可达300 mm。该探针台还可用于TLP, HMM, HBM,低压浪涌, RF, S参数，以及DC测量。探针台可与带真空泵和磁力支架的微调器配合使用，底部的绝缘卡盘有真空吸口，用于固定晶圆片。多个4 mm尺寸接头可从背面为晶圆提供电压偏置。特点:便携式手动晶圆探针台背面带真空吸口和晶圆偏置电位接头的绝缘卡盘三目立体显微镜：3.5倍– 90倍附带5百万像素摄像头及配套软件超耐用LED环形灯高可靠性价格实惠SKU：CN-ES62X-CMPS分类：探针台测试方案,脉冲IV曲线测试方案标签：DC测量,S参数,TLP测试,探针台,特色产品,静电放电