带电器件模型 (CDM) 静电放电是微电子电路故障的常见原因。在相对较低的电压下，CDM 放电会严重损坏或毁坏敏感设备。当带静电的设备接触不同电位的金属表面时，通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有极快的上升时间。ES640 型是机器人 CDM（充电设备模型）测试仪，旨在满足所有流行的 CDM ESD 测试方法，允许使用场感应空气放电方法 (FICDM) 和基于继电器的接触放电方法（LI-CCDM、CC-TLP、RP- CCDM）。该系统包括计算机、环境控制室、精密XYZ运动系统、不同类型的CDM测试仪模块以及自动化测试和数据分析软件。特征高分辨率相机（最多 3 个）允许轻松进行引脚对齐操作高分辨率运动控制系统（低至 1 µm 步长）允许批量测试多个设备正在申请的 CCDM 方法可实现更好的可重复性密闭环境室提高干燥装置效率支持蓄热式干燥装置（无需氮气）

ES640是一款机械自动的带电设备模型（CDM）测试仪，旨在满足所有流行的CDM测试方法，支 持场感应空气放电法（FICDM ）和接触优先法（CCDM ）。该系统还包括计算机、环境控制室、精确的 XYZ运动控制系统、不同类型的CDM测试设置以及自动测试和数据分析软件。

ES62x-SSM (ES62X-LTKSEM、A621-LTKSEM)系统开关模块用于TLP脉冲IV曲线测试与DC特性测试的自动切换。当开关处于常闭状态时，TLP脉冲注入到DUT端，IV曲线测试系统采集DUT的脉冲IV曲线，同时，电压测量分压探头连接至示波器，获取DUT端的电压波形。当开关处于常开状态时，DUT连接至源测量单元（Source Measurement Unit, SMU)，电压分压探头处于开路状态，因此不提供SMU测量时的任何其他回路路径。ES62x-SSM自身的摩擦带电量很低，因此适用于极敏感低压（几伏甚至更低）器件，例如CMOS或MMIC工艺技术。特性为高性能VF-TLP/TLP/HMM 系统设计低摩擦带电 (几伏甚至更低 )DC-18 GHz 带宽2个同步切换的SPDT通道6个SMA接口LED开关切换指示可用于高达3 kV/120 A 1000 ns TLP系统高可靠性开关寿命超过 1百万次分类： 脉冲IV曲线测试方案标签： DC测量, ESD测试, TLP测试

ES612 ESD测试仪是一款2管脚测试仪，为晶圆、封装、PCB和系统级ESD测试而设计。该测试仪的波形可以符合HBM，HMM和MM 的相关ESD标准。测试仪上的DC特性测试端口，可搭配数字源表等DC测试设备，较为轻松的帮助确定ESD损伤阈值。ES612 ESD测试仪可搭配多管脚自动化测试仪进行应用扩展，也可用作器件质检规范流程的一步。ES612 ESD测试仪的脉冲源设计和注入方法能够确保被测器件端的波形表现。该设备内置的电流探头自动抓取脉冲注入时的波形，为数据分析提供可靠依据。此外，电压波形也可通过选配的电压探头连接示波器进行抓取。由于该设备还可扩展进行ESD波形注入前后的DC特性检测，因此可进行ESD事件的损伤判定。特点低寄生参数，高质量脉冲可定制，可扩展可搭配探针台进行晶圆级测试外置可选配的自动故障检测模块触摸控制面板可固件升级可选配的自动化脉冲注入和故障测量软件可选配的脉冲IV和DC IV表征功能分类： 脉冲IV曲线测试方案标签： 特色产品

TVS-10G 是一款宽频带（Dc-10GHz）瞬态电压抑制器。该器件可作为示波器进行高频、高压波形测量时的保护器，例如ESD测量。TVS-10G抑制器能够钳位高压瞬态脉冲，并能够匹配50 Ω 的系统阻抗。特性宽频带工作范围：DC – 10 GHz高频高压瞬态波形钳位电压：± 6V 左右IEC 61000-4-2 接触模式及空气模式耐受电压 ±20 kV50 Ω 阻抗匹配10 GHz频率时的插入损耗约为 – 0.8 dB1 GHz频率时的反射损耗低于-35 dB分类：系统级ESD方案,脉冲IV曲线测试方案标签：ESD,TLP,特色产品

ES660系列ESD和LU测试系统是的多引脚自动化测试设备，旨在满足现代半导体测试的严格要求。这种多功能设备旨在无缝支持人体模型（HBM）、机器模型（MM）和闩锁测试，为评估集成电路（IC）和电子元件的可靠性和稳健性提供全面的解决方案。ES660-P1可支持1024个引脚，是测试具有多种连接的复杂IC和电子元件的理想选择。其高引脚计数能力确保了能够准确高效地评估大型设备，减少了测试时间并提高了生产力。为了获得更高的引脚数，ES660-P2型号（2048个引脚）已列入开发路线图。特点与多种测试方法和标准的兼容性高度灵活的偏置和引脚计数配置能力自动化测试效率高级控制和监控泄漏和直流扫描数据分析应用程序半导体器件ESD测试HBM模块符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、MIL-STD-883E、AEC Q100-002MM模块符合ANSI/ESDA SP5.2闩锁选项符合JEDEC JESD78ANSI/ESD SP5.4.1的瞬态锁存挂起

CT-001-B011 是一款宽带电流探头，用于监测 10 kHz – 1 GHz 频带范围内的电流瞬态信号。在1 MHz – 1 GHz 频段范围内，CT-001-B011 电流探头的传输阻抗平整，为 1 V/A。在 10 kHz – 1 MHz 频段范围内，CT-001-B011 电流探头的传输阻抗呈线性增大的特性。

ESDEMC EM601-6是一款工作频段为DC-6GHz范围的带状线TEM小室，能够外接信号源产生电磁场，用于测试IC，无线通信模块等。外部信号通过EM601输入端口进行加载，在小室腔体内生产一个均匀、可控的电磁场，进行被测模块或IC的抗扰度测试。IC或其他模块安装在测试夹具上放入小室，其产生的辐射场特性也可以通过信号接收机连接EM601小室端口进行检测。独特紧凑的设计针对超出标准TEM Cell频率范围的中等精度测量进行了优化。 EM601-6的工作原理与TEM Cell相同。测试腔体内的E-H场与输入电压成比例，与小室的高度成反比。当辐射物嵌入小室内部时，辐射波经传输线引导，朝着小室的输入/输出端口移动，并通过诸如频谱分析仪的接收器在端口进行辐射信号接收。利用这种方法，可以定量测量来自辐射物的RFI。由于该设备工作频段宽，因此可应用在EMI，EMS，接收机灵敏度测试等很多领域。特征：高达6 GHz带宽（超过普通TEM的 1 GHz带宽）可承受高达5 kV的高压脉冲注入，进行瞬态场测试分类：电磁兼容和射频测试方案标签：EMC,ESD,射频,抗扰度,辐射