ES660 静电放电和闩锁测试系统是一款先进的多针自动测试设备，旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能设备旨在无缝支持人体模型 (HBM)、机器模型 (MM) 和闩锁测试，为评估集成电路 (IC) 和电子元件的可靠性和稳健性提供全面的解决方案。 ES660-P1 配置支持多达1280个引脚， 非常适合测试具有大量连接的复杂 IC 和电子元件。从而缩短测试时间并提高生产率。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作频段为DC-6GHz范围的带状线TEM小室，能够外接信号源产生电磁场，用于测试IC，无线通信模块等。外部信号通过EM601输入端口进行加载，在小室腔体内生产一个均匀、可控的电磁场，进行被测模块或IC的抗扰度测试。IC或其他模块安装在测试夹具上放入小室，其产生的辐射场特性也可以通过信号接收机连接EM601小室端口进行检测