ES660 静电放电和闩锁测试系统是一款先进的多针自动测试设备，旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能设备旨在无缝支持人体模型 (HBM)、机器模型 (MM) 和闩锁测试，为评估集成电路 (IC) 和电子元件的可靠性和稳健性提供全面的解决方案。 ES660-P1 配置支持多达1280个引脚， 非常适合测试具有大量连接的复杂 IC 和电子元件。从而缩短测试时间并提高生产率。

ES622系列TLP脉冲IV曲线系统是一种IV曲线表征系统，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1标准，旨在高功率时域中模拟ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脉冲）及监控设备（半导体、分立器件、电路模块等）。应用于ESD性能表征/晶圆/封装级ESD测试系统/电路模块ESD测试/安全操作区（SOA）测试/触摸屏ITO微带线熔断和击穿测试等。

ES612A ESD测试仪(HBM、HMM、MM)是一款2管脚ESD测试仪，为晶圆、封装、PCB和系统级ESD测试而设计。该测试仪的波形可以符合HBM、HMM和MM的相关ESD标准。测试仪上的DC特性测试端口，可搭配数字源表等DC测试设备，较为轻松的帮助确定ESD损伤阈值。ES612A可搭配64pin/128pin多管脚自动化测试仪进行应用扩展，也可用作器件质检规范流程的一步。

ES640充电器件模型（CDM）测试系统，充电器件模型（CDM）静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的C​​DM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时，通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。

TLP-1000A系列传输线脉冲发生器是我们最新的（2022）独立TLP脉冲设计，可以产生直接TLP脉冲、E场和H场并将其注入被测器件（DUT）。该发生器设计用于施加高达5kV（50欧姆负载）的高质量矩形脉冲。5英寸彩色IPS触摸屏和USB端口可以轻松远程控制电压极性、振幅和脉冲速率。可定制的脉冲宽度和上升时间以及可变测量附件使发电机功能可扩展。

ES62X-LVS低压浪涌系统，能够输出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形，用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能，便于确定被测器件的ESD损伤阈值。

EOS-500过电应力模拟发生器是一款50欧姆输出阻抗脉冲发生器，用于一般EOS测试，脉冲宽度可在ns至ms范围内调节。

CDM 器件充放电测试系统为ESD事件中的器件充放电测试模型， 模拟带电荷的器件在接触地低电荷时瞬间放电形成电流，对器件造成损伤和击坏的过程